Der CETCOR wurde für die Kompensation der sphärischen Aberration (Cs) im hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskop (TEM) entwickelt. Er kompensiert zudem alle Bildfehler bis einschließlich zur 3. Ordnung (A1, B2, A2, C3, S3, A3).
Der CETCOR ist variabel einsetzbar für Hochspannungen zwischen 30 kV und 300 kV. Durch die Bildfehlerkorrektur kann die Punktauflösung auf das Informationslimit des TEMs angepasst werden. Bei TEMs mit Schottky-Emitter bedeutet dies eine Auflösungsverbesserung um etwa den Faktor 2 gegenüber einem unkorrigierten TEM.
In Kombination mit einer monochromatisierten Elektronenquelle, können abhängig von der genutzten Hochspannung Informationslimits von ca. 80pm (200kV) und ca. 50pm (300kV) erreicht werden.
Der CETCOR eignet sich vor allem für Hochauflösungs-TEM auf atomarer Ebene für materialwissenschaftliche Anwendungen im Nanotechnologie-Bereich.
Merkmale:
Cs Korrektor für Hochauflösungs-TEM
Automatische Korrektur aller axialer Bildfehler bis einschließlich zur 3.Ordnung (A1, B2, A2, C3, S3, A3)
Verschwindende Delokalisation im Bild
Verbesserte Punktauflösung
In Kombination mit Monochromator wird ein Informationslimit von besser als 80 pm (200 kV), 50 pm (300 kV) erreicht
Kompatibel mit vielen TEMs: TFS (Tecnai F20, Titan, Themis und Spectra), JEOL (JJEM-2100F, JEM-2200FS, JEM-ARM200F und JEM-ARM200F NEOARM), Zeiss (Libra 200)
Technische Daten:
Maße (HxBxT): 250 x 396 x 306 [mm]
Mikroskopie-Modus: TEM
Hochspannungsbereich: 30kV – 300kV
Anwendungsbereich:
Einsatz in der hochauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie, speziell im Bereich der Materialwissenschaften.
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